本发明公开了一种金属膜厚测量方法和化学机械抛光设备,其中方法包括:利用电涡流传感器测量晶圆表面的金属薄膜的厚度,所述电涡流传感器包括依次叠放的检测线圈、激励线圈和补偿线圈;获取所述电涡流传感器的输出电压得到特征值,所述特征值等于输出电压的实部与虚部的比值,所述特征值与被测金属膜厚呈线性关系;根据所述特征值确定被测金属膜厚。
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