本发明提供一种带hopping跳跃成像模式的
电化学成像测量方法,原理图如图2所示。实验时探针从距离样品基底H高度的位置开始向下步进,当检测到的电流达到电流阈值I时探针停止移动,记录此时探针的移动距离D,用H‑D作为这个点的检测值,然后自动返回到H高度上继续下一个点的检测。带hopping跳跃成像模式的电化学成像测量方法可以防止探针与被测样品发生刚性接触,避免损坏探针。且电化学成像测量结果中的每个检测点都足够接近被测样品表面,使电化学成像的分辨率得到显著的提高。
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“带hopping跳跃成像模式的电化学成像测量方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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