本发明涉及脉冲激光沉积镀膜领域,公开了一种在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的方法。首先,在脉冲沉积镀膜过程中,用激光诱导击穿光谱(LIBS)测量沉积的薄膜中各个成分化学计量比;然后,用石英晶体微天平(QCM)测量薄膜总沉积量;最后,将LIBS的结果和QCM的结果相结合,得到薄膜中各成分的质量。本发明基于PLD技术、LIBS技术、QCM测膜厚技术,将LIBS和QCM相结合,弥补了LIBS定量分析比较困难,QCM不能进行物质分辨的不足。本发明能够在脉冲激光沉积镀膜过程中,实时原位在线测量薄膜化学计量比,不会对镀膜过程有干扰,并且方法简单,易于实现。
声明:
“在线测量PLD薄膜化学计量比及各成分质量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)