本发明公开了一种X-射线荧光光谱法测定熔敷金属化学成分的方法,包括以下步骤:1)绘制工作曲线;2)熔敷金属试样的制备;3)熔敷金属试样中元素含量的测定。本发明具有分析速度快、操作简单、测量数据准确度高的特点,该方法的应用拓宽了荧光分析的应用范围,同时可以避免由于传统化学分析产生的废弃物的排放,减少环境污染,达到了节能减排的目的,具有明显的社会效益。
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