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测定熔敷金属化学成分的方法

1063   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:46:28
本发明公开了一种X-射线荧光光谱法测定熔敷金属化学成分的方法,包括以下步骤:1)绘制工作曲线;2)熔敷金属试样的制备;3)熔敷金属试样中元素含量的测定。本发明具有分析速度快、操作简单、测量数据准确度高的特点,该方法的应用拓宽了荧光分析的应用范围,同时可以避免由于传统化学分析产生的废弃物的排放,减少环境污染,达到了节能减排的目的,具有明显的社会效益。
声明:
“测定熔敷金属化学成分的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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