合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 借助测量光谱与参照光谱的互相关来测定均匀分布在介质中的化学物质的存在的方法

借助测量光谱与参照光谱的互相关来测定均匀分布在介质中的化学物质的存在的方法

1080   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:45:17
本发明涉及一种测定均匀分布在介质中的至少一种化学物质V′的同一性或非同一性的方法,其通过:A)将含有至少一种均匀分布的化学物质V′的介质曝露于具有可变波长Λ的分析辐射中,和B)借助吸收、反射、发射和/或散射的辐射来确定光谱测量函数I′(Λ)。本发明方法特征在于根据方程式I确定相关函数K(ΔΛ,C′,C),其中K(ΔΛ,C′,C)表示取决于函数I′(Λ,C′)和I(Λ,C)的相对位移ΔΛ及至少一种化学物质V′及V的浓度C′及C的相关性;C′表示均匀分布在介质中的具有已知或待定同一性的至少一种化学物质V′的浓度;C表示均匀分布在介质中的具有已知同一性的至少一种化学物质V的浓度,I′(Λ,C′)表示具有浓度C′的至少一种均匀分布在介质中的化学物质V′的测量函数,I(Λ,C)表示具有浓度C的至少一种均匀分布在介质中的化学物质V的比较函数,和N表示标准化因子,并借助相关函数K(ΔΛ,C′,C)测定化学物质V′与V之间的同一性或非同一性。
声明:
“借助测量光谱与参照光谱的互相关来测定均匀分布在介质中的化学物质的存在的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记