本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置,其具有坩埚(10)以及传感器(20),坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中,传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险,根据本发明设置成,该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30),其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30‑1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30‑2)。此外,本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。
声明:
“用于对试样进行热分析的测量装置和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)