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晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法

573   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:45:16
本申请提供一种晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法,包括:获取晶态物质的真密度ρ1、理论密度ρ2和系统差ρ3;利用公式[ρ2/(ρ1‑ρ3)‑1]*100%计算得到晶态物质的闭孔孔隙率。本申请所述分析测试方法不受晶态物质的孔径大小限制,并且可以测量全范围粒径大小的晶态物质的闭孔孔隙率,适用范围广、操作简便、成本低。本申请利用X射线粉末衍射仪和真密度分析仪进行测试分析,不会破坏晶态物质结构。本申请仅使用仪器测试值计算得到闭孔孔隙率,不需要使用感光膜、切片等,也不需要化学试剂等有危害物质,对环境友好,绿色环保。
声明:
“晶态物质的闭孔孔隙率的分析测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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