合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 用于光谱组成分析的晶片颗粒缺陷的活化

用于光谱组成分析的晶片颗粒缺陷的活化

1038   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:45:15
本文中描述用于检测晶片表面上的颗粒缺陷,将所述颗粒转化为光谱活性状态,且通过光谱技术来识别所述经活化的颗粒的材料组成的方法及系统。颗粒缺陷是通过化学处理、热处理、光化学处理或其组合转化,使得经活化的颗粒展现可光谱观察的原子振动带。在一个实施例中,表面检验系统检测晶片表面上颗粒缺陷的存在,活化所述经检测的颗粒中的一或多者中的可观察拉曼带,且通过光谱技术来识别所述经活化的颗粒的所述材料组成。通过在相同检验工具上执行缺陷检测及组成分析两者,无需将晶片转移到不同重检工具或工具组合,以执行沉积在半导体晶片上的颗粒缺陷的组成分析。
声明:
“用于光谱组成分析的晶片颗粒缺陷的活化” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记