合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 用于多晶硅化学机械研磨制程中缺陷检测晶圆的制作方法

用于多晶硅化学机械研磨制程中缺陷检测晶圆的制作方法

701   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:44:50
一种用于多晶硅化学机械研磨制程中缺陷检测晶圆(控片)的制作方法,在硅衬底上沉积一薄层氧化硅薄膜后,再在氧化硅层上沉积一层氮化硅阻挡层,然后再在氮化硅阻挡层上沉积一层多晶硅薄膜,并在循环使用中保留该氮化硅层。本发明增加了氮化硅阻挡层,可以有效解决在控片的循环使用过程中对硅衬底造成损伤产生COP缺陷而影响测机结果的问题,从而减少检测过程的误差,获得能够真实表征机器性能的检测数据。
声明:
“用于多晶硅化学机械研磨制程中缺陷检测晶圆的制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记