本发明公开了一种CMP终点的确定方法、确定系统和CMP系统,该确定方法包括:获取驱动所述抛光盘的电机负载率随时间变化的数据、所述摆臂的摆动角度随时间变化的数据和所述抛光头相对于所述抛光盘中心的摆动距离随时间变化的数据;进而根据以上数据得到归一化摩擦力矩随时间变化的数据;根据归一化摩擦力矩随时间变化的数据得到所述归一化摩擦力矩随时间变化的曲线;根据曲线确定抛光终点。本发明具有如下优点:不需要复杂的滤波计算,计算量小,能够更加实时准确确定抛光终点,进而提升抛光后的成品质量。
声明:
“CMP设备的终点确定方法、终点确定系统和CMP系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)