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痕量As(III)重金属的电化学检测方法

848   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:42:48
本发明涉及一种痕量As(III)重金属的电化学检测方法,属于重金属离子检测技术领域。本发明以离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极为工作电极,Ag/AgCl电极为参比电极,铂柱电极为对电极,利用示差脉冲伏安法对不同As(III)浓度的缓冲溶液B进行测定,绘制示差脉冲曲线,以峰电流和As(III)浓度关系绘制得到标准曲线;其中离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极为IIM‑Nano‑Au修饰电极,缓冲溶液B中As(III)浓度为9.9×10‑12~6.1×10‑5mol/L;将离子印迹聚合膜修饰的玻碳电极放入盛有待测As(III)重金属样品液的测量池中,采用示差脉冲伏安法以相同的条件测定待测As(III)重金属样品液,绘制示差脉冲曲线,得到As(III)的峰电流,将As(III)的峰电流代入标准曲线得到待测As(III)重金属样品液中As(III)重金属浓度。本发明可直接采用电化学测定法测定As(Ⅲ)含量。
声明:
“痕量As(III)重金属的电化学检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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