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降低化学机械抛光工艺热点检测漏报率的方法

1018   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:38:40
一种降低化学机械抛光工艺热点检测漏报率的方法,包括:第一步骤:执行版图载入;第二步骤:选定格点大小,根据设置的起始点移动步长,并计算两个垂直移动方向上的单方向移动次数;第三步骤:将版图切割起始点(X, Y)按照{(X?m*s), (Y?n*s)}进行移动,其中s为起始点移动步长,m和n为整数且初值均为所述单方向移动次数;第四步骤:执行格点几何信息提取;第五步骤:执行化学机械抛光工艺模拟预测;第六步骤:执行热点检测;第七步骤:使得n递增1,在递增1之后的n小于单方向移动次数时,重复第三步骤到第六步骤,或使得m递增1,在递增1之后的m小于单方向移动次数时,使得n递增1,当递增1后的n也小于单方向移动次数时,重复第三步骤到第六步骤。
声明:
“降低化学机械抛光工艺热点检测漏报率的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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