合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 化学机械抛光中光谱终点的检测方法、装置及系统

化学机械抛光中光谱终点的检测方法、装置及系统

642   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:38:40
本发明提供了一种化学机械抛光中光谱终点的检测方法、装置及系统,包括:根据晶圆表面被抛薄膜的光谱检测数据,确定被抛薄膜的平滑的光谱检测数据;根据平滑的光谱检测数据中关联的反射率数据与检测波长数据,确定平滑的光谱检测数据中的极值点及每个极值点对应的波长值;根据至少两个相邻极值点的波长值以及被抛薄膜的光学折射率,确定被抛薄膜的剩余厚度;在检测到被抛薄膜的厚度达到设定厚度阈值时,确定该被抛薄膜的厚度为抛光终点,以使化学机械抛光设备在抛光终点停止抛光;其通过计算晶圆表面被抛薄膜的剩余厚度,确定该被抛薄膜的厚度为抛光终点,提高了光谱终点的检测精确度,且提高了化学机械抛光设备的工作效率。
声明:
“化学机械抛光中光谱终点的检测方法、装置及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记