本发明提供了一种X射线荧光光谱法对碳酸锶中化学成分含量的检测方法,所述的检测方法包括碳酸锶标准样片制备、标准线制作、质量比/体积比制样、试样检测;本发明方法中的制样方法所测定的结果与化学法所测定的结果基本一致,良好克服了试样片颗粒度与基体效应对X‑荧光分析的影响,分析精度达到化学法分析水平,适用于不同含量分布碳酸锶的日常分析,测量准确度、精密度较好,且制样简单、分析速度快,大大降低了化学废液的污染;本发明方法中还提供了一种有别于常规X‑荧光固定质量的方法,采用相对固定体积的方法进行制样、检测,节省了人力、物力。
声明:
“工业碳酸锶中化学成分含量的检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)