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基于光透射结果分析的芯片比色检测方法

1045   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:35:56
本发明公开了一种基于光透射结果分析的芯片比色检测方法。该方法包括:将反应剂溶液滴加在芯片载体上,得到检测芯片;按浓度梯度配制不同浓度的标准检测物溶液;将不同浓度的标准检测物溶液分别滴加在检测芯片的检测区域上,显色,测量透射光,将透射光值与标准检测物溶液的浓度值之间的关系建立标准曲线,得出对应的标准曲线方程;将待测样品溶液滴加在检测芯片的检测区域上,显色,测量透射光,数值化读取待测样品的透射光值,将待测样品的透射光值数据代入标准曲线方程中,计算得到所述待测样品的浓度。该方法步骤简单,易于操作,能改善由于颜色强度的饱和问题造成高浓度检测物的分析结果不准确问题,可广泛应用于生物、化学等检测领域。
声明:
“基于光透射结果分析的芯片比色检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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