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使用X射线微量分析来确定复杂结构的化学成分的方法

757   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:35:13
一种用于使用微X射线荧光光谱法识别印刷线路组件中有害物质的方法,该印刷线路组件具有多个分立部件(图1)。使用微X射线荧光光谱法(Μ-XRF)和/或X射线吸收精细结构(XAFS)光谱法作为检测分析仪,用于识别在电子设备中的有关材料。通过响应于参考数据库中的信息将设备或组件在X、Y和Z的方向上移动到探针下(130),来确定在该组件上选定位置的元素组成(125),以便分析所检验的设备或组件,该探针被设置在距用于分析的每个选定位置的最佳分析距离处(120)。然后,使每个选定位置处的所确定元素组成与参考数据库互相关,并且将所检测到的元素指定到该组件中的各种部件。
声明:
“使用X射线微量分析来确定复杂结构的化学成分的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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