本发明公开了一种光
电化学反应中间体的阵列
芯片质谱联用分析方法。该方法利用二氧化钛、
石墨烯等具有半导体性质或光催化性能的无机材料修饰玻璃、聚酰亚胺等绝缘塑料形成光催化剂修饰的微阵列芯片。之后将用于光电化学反应的底物滴加在该芯片上,利用光照引起光电化学反应。反应若干时间后,利用静电喷雾离子化质谱技术对该样品点进行检测,实现光电化学反应中间体分析。
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