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用于样品的分析检查的测试元件分析系统

934   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:34:01
公开了用于样品的分析检查的测试元件分析系统(110)以及用于样品的分析检查的方法。测试元件分析系统(110)包括测量装置(112),测量装置(112)包括用于至少部分地接收至少一个测试元件(116)的测试元件接受器(114),其中,测试元件接受器(114)包括至少一个第一部分(118)和至少一个第二部分(120),其中,第一部分(118)包括用于置放测试元件(116)的至少一个支撑表面(144),其中,第二部分(120)包括至少一个光学检测器(128),所述光学检测器用于检测在测试元件(116)中包含的至少一种测试化学物质(154)的至少一种检测反应,其中,第二部分(120)可相对于第一部分(118)移动,其中,测试元件接受器(114)配置成将第二部分(120)定位在至少一个位置中,使得测试元件(116)可以插入到测试元件接受器(114)中,且随后将第二部分(120)定位在关闭位置(182)中,使得第二部分(120)的至少一个邻接表面(184)静止在测试元件(116)上。
声明:
“用于样品的分析检查的测试元件分析系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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