本申请涉及一种基于化学发光法的臭氧分析方法及臭氧分析仪。该臭氧分析方法包括:测量样气的第一荧光信号;使样气中的臭氧与过量一氧化氮进行反应以生成激发态的二氧化氮;测量二氧化氮返回基态过程中的第二荧光信号;根据第一荧光信号和第二荧光信号分析样气中的臭氧浓度。本申请的臭氧分析方法,臭氧与一氧化氮气体发生化学发应后发光,化学反应本身以及发光特征波长都具有较高的选择性,所以可以解决共存物质干扰的问题,使得测量结果更加准确可靠。
声明:
“基于化学发光法的臭氧分析方法及臭氧分析仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)