一种利用离子阱质量分析器获得高准确质谱的方法包括:调整该分析器的工作参数,以启动质量选择共振射出模式下的反向质量扫描;以及,设定捕获场以俘获一个质荷比范围内的离子,该范围具有接近所关心离子质荷比的下限。一种确定化学位移的方法包括:调整该分析器的工作参数以启动正向和反向质量扫描;以及,校准从正向和反向质量扫描获得的质谱。
声明:
“利用离子阱质量分析器获得高准确度质谱的方法和利用离子阱质量分析器确定和 /或减小质量分析中化学位移的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)