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劣化分析法以及化学态测量法

647   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:34:00
本发明提供能够详细分析聚合物材料的劣化、特别是具有低导电率的聚合物材料的表面状态的劣化的劣化分析法。本发明涉及劣化分析法,其包括:用高强度X射线辐照其上形成有厚度为以下金属涂层的聚合物材料,并在改变X-射线能量的同时测定X-射线吸收,从而分析聚合物的劣化。
声明:
“劣化分析法以及化学态测量法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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