本发明公开了一种应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法。本发明采用固定步进长度,连续多点读值,获取完整的关于检测位置和发光值的对应图。选取最高值左右两侧最近处的发光值各两个,两侧各连接最近处发光值构成直线,两条直线交点作为近似最高发光值。本发明为一种测量和计算方法,能自适应被检测物的随机位置,稳定地得到其近似最高发光值,减少了为确认测量位置的准确性而增加的硬件复杂设计和成本。
声明:
“应用于化学发光分析仪发光值的自适应测量计算方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)