本发明公开了一种
芯片测试装置及其测试方法,属于芯片测试领域。一种芯片测试装置,包括检测箱和设备箱,所述检测箱固定连接在设备箱上,所述设备箱内转动连接有转动杆,所述设备箱上固定连接有气缸和活塞缸,所述推杆上固定连接有摩擦杆,所述气缸上固定连接有摩擦板,所述摩擦杆滑动连接在摩擦板上,所述转动杆通过往复机构与推杆相连接,所述气缸上固定连接有出气管,所述活塞缸上滑动连接有活塞杆;本发明使用简单,操作方便,通过把不同检测环境放置在一起进行检测,减少了检测时间,提高了检测效率,同时增加了检测的多样性,提高了对不同检测数据下芯片数据的收集,增加了使用安全保障。
声明:
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我是此专利(论文)的发明人(作者)