本实用新型公开了一种光纤涂覆层异常处检出装置,包括有放置光纤的光纤盘、用于给光纤通光的光纤笔、用于检测光纤的热成像仪以及张力筛选机;所述光纤的一端与张力筛选机连接,所述张力筛选机对光纤进行性能检测,所述光纤的另一端与光纤笔连接,经光纤笔照射使光纤通光,在所述光纤盘与张力筛选机之间设置热成像仪,用于检测通光后光纤上的异常点。对光纤通光,并对通光后的光纤使用热成像仪检测,热成像仪可以对光纤的异常处检出,发现异常处可以对其进行切除操作,防止后续光纤在异常处损坏。
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