本申请公开了一种测试系统,该系统包括:N个测试装置以及探针部;所述探针部包括N组测试探针;每组测试探针包括第一极测试探针和第二极测试探针;每组测试探针用于电连接待测驱动板的不同负载输出端;各所述测试装置包括第一输入端以及第二输入端;其中,第j测试装置还包括第一输出端以及第二输出端;第N测试装置的第一输入端与第N组测试探针的第一极测试探针电连接。本申请实施例提供的一种测试系统,该测试系统包括多个测试装置,该测试装置能够对驱动板上设置的多个负载输出端连接的内部电路进行全面性能检测,有效的解决了因为漏检电路而未检测出驱动板性能品质不良的问题。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)