本实用新型涉及一种多用途型激光微电测试检测机构,包括底座主体和滑动测试机构;其中,底座主体包括,底板和负极测试头组件;滑动测试机构包括,导轨滑块组件和正极探针测试头;导轨滑块组件固定连接在底板上;负极测试头组件固定安装在底板上,正极探针测试头固定安装在滑动测试机构上;底板上设置有待测产品安装部,用于放置待测产品,待测产品位于负极测试头组件和正极探针测试头之间。本实用新型通过机构连接待测产品的正负极进行半成品过程中电性能检测,以替代产品正负极直接连接外置电源,避免了虚接打火产生的瞬时大电流导致激光
芯片被击穿。
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