本发明公开了电路性能自动测试系统,所述系统包括:固定单元,用于对待测试电路板进行固定;外观检测单元,用于对待测试电路板进行外观检测;尺寸检测单元,用于对待测试电路板进行尺寸检测;电路检测,用于对待测试电路板进行电路性能检测;解决了现有的电路性能测试效率较低和成本较高的技术问题,实现了测试系统设计合理,电路性能测试效率较高成本较低的技术效果。
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