本发明公开了一种基于机器视觉的SMD晶体器件检测系统,属于机器视觉检测技术领域。本发明的基于机器视觉的SMD晶体器件检测系统,其特征在于:包括ARM控制器(1)、图像显示卡(2)、显示模块(3)、光源模块(4)、工控机(5)、报警模块(6)、系统复位模块(7)、震动送料机构(8)、器件性能检测机构(9)、方向调整机构(10)、CCD工业相机(11)、光源模块(12)、缺陷产品分拣机构(13)、运送传输机构(14)。本发明与现有技术相比:具有系统结构简单、安装与调试方便、系统可靠性高、测量精度高、功耗低、易于普及推广、维修方便等优点。
声明:
“基于机器视觉的SMD晶体器件检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)