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一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置及分检方法

852   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 06:25:54
本发明公开一种用于检测微型LED芯片(1)质量的分检装置及分检方法，微型LED芯片(1)包括芯片基板(15)以及多个LED晶片(11)；多个LED晶片(11)具有共同的第一负电极(12)，且分别具有独立的第一正电极(13)；分检装置包括电性能检测单元(2)，电性能检测单元(2)包括检测单元主体(21)以及一个第二正电极(22)和一个第二负电极(23)。通过将多个LED晶片(11)以共阴极和共阳极的方式电连接到电性能检测单元(2)上，当电性能检测单元(2)与外界电源连接时，多个LED晶片(11)相当于并联形式连接到电源上，从而同时检测出多个LED晶片(11)的发光情况，完成分区域检测，较以往单颗点亮提高了效率，微型LED得以实现快速质量检测。
声明：
“一种用于检测微型LED芯片质量的分检装置及分检方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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