本实用新型实施例提供的光纤敏感环性能检测系统,偏振光生成元件发出两束偏振方向垂直的线偏振光,经过保偏光纤环和待测的光纤敏感环环往返传输之后由探测器探测到干涉光强,因为光纤敏感环在通电导体电流的作用下对两束偏振光作用,会使返回的两束偏振光之间的相位差与通电导体中的电流有关,而光纤敏感环当前所处的环境也会引入误差影响两束光的相位差,因此探测器探测到的干涉光强转换为电流值之后,一部分是通电导体中的电流影响,一部分是光纤敏感环所述环境引入误差引入的影响,所以根据这两个电流值即可得到与光纤敏感环所处环境对应的测量误差。
声明:
“光纤敏感环性能检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)