本实用新型涉及电子技术领域,尤其为高速栅极驱动IC的性能检测装置,包括外壳、开关按钮、滑动板和
芯片,所述外壳下端开设有第四凹槽,且第四凹槽内部设有开关按钮,所述开关按钮左端面与外壳固定连接,所述第四凹槽内滑动连接有滑动板,且滑动板右端面固定连接有挡板,所述挡板右端面固定连接有把手,所述滑动板上端面中央开设有第一凹槽,且第一凹槽内设有芯片,所述芯片前后端面固定连接有均匀分布的引脚;本实用新型中,通过设置的缓冲板、转动杆、转动块和卡和装置,因为缓冲板具有一定的缓冲功能,这时不会过紧的压住引脚,不会对引脚造成损坏,这种设计构思新颖,设计科学,具有广泛的市场前景,值得推广使用。
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“高速栅极驱动IC的性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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