本实用新型公开了一种
芯片性能检测探针台,探针台底座上设置第一XY位移丝杆,升降旋转模组包括升降台、角度旋转台和样品台,样品台设置在角度旋转台上,角度旋转台设置在升降台上,升降台固定在升降第一XY位移平台上以带动升降旋转模组在探针台底座的X轴和Y轴移动;探针组件包括探针以及固定定位探针的探针定位器,探针定位器设置在探针台底座上,探针台底座上还设置龙门架,龙门架上设置第二XY位移平台,相机和显微镜通过固定板连接第二XY位移平台以使得能够沿龙门架的X轴和Y轴移动。本实用新型可以实现被测试样品的精密位置移动,可以让显微镜XY轴精密移动,通过样品台和显微镜的配合,快速精准的找到芯片样品被测点快速完成测试。
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