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半导体照明发热性能检测装置

684   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:22:13
本实用新型提供一种半导体照明发热性能检测装置,包括检测箱,所述检测箱内设置有安装座,所述安装座旁设置有供电电源,通过供电电源为安装座进行供电,所述检测箱内设置有温度传感器,通过温度传感器对检测箱内的温度变化进行检测,所述检测箱外部设置有显示屏,所述显示屏与温度传感器相关联,将温度传感器检测的温度显示在显示屏上。通过安装座和供电电源对半导体照明进行照明模拟,并在半导体照明工作时由温度传感器对检测箱内的温度变化进行检测,完成半导体照明发热性能的检测工作,减少人工的工作量,并且通过冷却风机对检测箱内的温度进行回温,避免前后两侧检测结果互相干扰。
声明:
“半导体照明发热性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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