本发明涉及电子加工领域,特别涉及一种发光二极管性能检测系统及检测方法,包括放置箱和检测架,放置箱的顶部开设有第一插槽,第一插槽内插设有旋转盘,旋转盘内对称开设有通槽,通槽均与放置槽对称设置并相连通,旋转盘的外侧开设有齿槽,放置箱的一侧固定连接有旋转电机,旋转电机的输出端固定连接有齿轮,齿轮与齿槽对称设置并相啮合,旋转盘的顶部设有限位块,限位块内开设有限位槽,限位块的底部对称固定连接有第一伸缩杆,第一伸缩杆的一端均固定连接在放置箱的顶部。本发明可以快速的对发光二极管进行批量检测,提高了检测效率,同时对需要检测的发光二极管进行整理码放。进一步提高了检测效率,适合推广。
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