合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 物理检测技术

> 一种芯片研发用性能检测设备

一种芯片研发用性能检测设备

984   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:22:11
本实用新型涉及检测设备技术领域,公开了一种芯片研发用性能检测设备,其结构包括固定板、活动板和检测头,活动板上设置有伺服电机、轨道槽和轴承,伺服电机固定连接在活动板的一端,轨道槽位于活动板的一侧,并且与活动板的内部相通,轴承设置有两个,并且固定连接在活动板内部的两侧,轴承通过丝杆连接有活动块,活动块的一端可拆卸安装有夹板,夹板通过压力传感器通过橡胶板,伺服电机和压力传感器通过导线电性连接有控制器。本实用新型实现了对芯片进行自动夹持,节省了芯片在夹持固定时的时间,避免了夹板对芯片的挤压力过大而导致芯片损坏的现象,提高了芯片检测夹持过程中的保护效果。
声明:
“一种芯片研发用性能检测设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
物理检测
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记