本申请提供了一种用于磁通门磁芯性能检测装置,所述检测装置包括:屏蔽筒,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境;旋转单元,用于为检测平台提供旋转动力;检测平台,用于安装待测磁芯;电路模块,用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路;支架结构,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。本申请实现了在磁通门传感器组装前对磁芯性能的检测,增加了成品率,降低了资源的浪费。
声明:
“一种用于磁通门磁芯性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)