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一种CPU半导体导电性能检测系统

1080   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:19:38
本发明公开的一种CPU半导体导电性能检测系统,包括检测台,所述检测台左侧端面上固定连接有升降支架,所述升降支架上设有断针修复及导电性检测切换机构,所述断针修复及导电性检测切换机构上设有CPU针脚焊接机构,所述CPU针脚焊接机构上设有左右对称的焊接针脚磨圆机构,本发明的CPU针脚焊接机构在焊接前对电烙铁进行预热,在下移进行焊接之前切断电烙铁电源,并使电烙铁接地,从而避免电烙铁在焊接过程中存在静电,有效避免针脚焊接过程中静电对CPU造成二次损伤,断针修复及导电性检测切换机构能自动检测CPU上断针位置,CPU针脚焊接机构能自动将铜丝焊接在CPU上。
声明:
“一种CPU半导体导电性能检测系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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