本发明涉及检测设备技术领域,且公开了一种电子产品研发用密封性能检测装置及其使用方法,其中的电子产品研发用密封性能检测装置包括检测箱,所述检测箱内填充有检测水,所述检测箱的顶部设有盖板,盖板的底端转动安装有第一转杆,第一转杆的底端固定安装有U形架,U形架的两侧内壁上均开设有螺纹孔,螺纹孔内螺纹安装有螺杆,螺杆的一端固定安装有压板,螺杆的另一端固定安装有转板,检测箱的两侧均固定安装有两个对称设置的连接座。本发明设计合理,便于对电子产品进行移动,从而便于把电子产品放置到检测水中,且便于把电子产品从检测水中取出,且便于对电子产品的表面进行风干。
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