本实用新型公开了一种霍尔集成电路性能检测装置,涉及霍尔集成电路性能检测技术领域,包括底座,底座顶部前侧固定连接有治具,底座顶部后侧固定连接有直角弯板,直角弯板上设有升降组件,所述升降组件底端固定连接有移动组件,所述移动组件上固定连接有检测针,所述治具内部通过缓冲机构连接有霍尔集成电路,所述缓冲机构包括限位组件、弹簧组件和安装组件,所述限位组件固定连接在治具内部,所述安装组件通过弹簧组件连接在限位组件上,所述安装组件与弹簧组件均位于治具内部,相对于现有技术,本实用新型可有效对霍尔集成电路受到的过度挤压力进行缓冲,即可有效对霍尔集成电路进行防护,避免霍尔集成电路被压损,从而避免经济损失。
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