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测量设备性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质

826   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:18:50
本申请涉及一种测量设备性能检测方法、装置、计算机设备。方法包括:获取待测测量设备第一时间点和第二时间点的测量数据、参考测量设备第一时间点和第二时间点的参考性能数据;第一时间点和第二时间点是目标测试时间段内的时间点,目标测试时间段是待测测量设备的测试性能数据逐渐偏离真实性能数据的时间段;基于第一测量数据和第二测量数据分别进行计算得到第一测试性能数据和第二测试性能数据;计算第一测试性能数据和第一参考性能数据的第一误差数据,计算第二测试性能数据和第二参考性能数据的第二误差数据;基于第一误差数据和第二误差数据之间的误差变化程度确定待测测量设备的性能检测结果。采用本方法能够提高测量设备的性能检测效率。
声明:
“测量设备性能检测方法、装置、计算机设备和存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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