本申请实施例公开了一种光开关和基于光开关的光性能检测方法,光检测装置集成在光开关内部,可以复用光开关中已有的装置对分波后的光信号进行光性能检测,便于实现系统的小型化。该光开关包括至少一个第一端口、至少一个第二端口、第一波分复用WDM装置、分光器、光检测装置和光交换装置。第一端口用于将输入的第一光信号传输至第一WDM装置,第一光信号为多波长信号。第一WDM装置用于对第一光信号进行分波。分光器用于对分波后的第一光信号进行分光得到第一子信号和第二子信号。光交换装置用于对第一子信号进行光交换。第二端口用于输出光交换后的第一子信号。光检测装置用于对第二子信号进行光性能检测。
声明:
“一种光开关和基于光开关的光性能检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)