本申请提供了一种器件性能检测装置与系统,涉及器件性能检测技术领域,该器件性能检测装置包括脉宽调制电路、驱动电路、开关电路以及温度传感器,脉宽调制电路、驱动电路、开关电路依次电连接,开关电路用于连接待测开关器件,温度传感器与待测开关器件连接,其中,脉宽调制电路用于输出高频驱动信号,驱动电路用于依据高频驱动信号驱动待测开关器件工作,温度传感器用于检测待测开关器件处于工作状态时的温升,以实现器件性能检测。本申请提供的器件性能检测装置与系统具有能够检测待测开关器件在高频工作状态下的温升的功能,具有能够判断出待测开关器件优劣的优点。
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