权利要求书： 1.一种电子元件平移式测试分选机，具有电子元件低温测试功能，所述分选机包括料管、上料运料区、测试区和下料运料区，所述料管包括用于上料的上料料管和用于下料的下料料管，其特征在于，所述分选机还包括一级密封腔和二级密封腔，且所述一级密封腔中充有干燥气，所述测试区位于所述一级密封腔内，所述上料运料区和所述下料运料区位于所述二级密封腔内，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间、所述料管与所述二级密封腔之间能够连通，以承接所述电子元件。2.根据权利要求1所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间开设取料口，并通过所述取料口实现所述电子元件在所述一级密封腔与所述二级密封腔之间的流转。3.根据权利要求2所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述取料口上设有自动门和动力机构，所述动力机构控制所述自动门开合以实现所述取料口的打开和封闭。4.根据权利要求3所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述动力机构选自气缸，所述气缸的前端还设有限制所述气缸伸出行程的限位块。5.根据权利要求2所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述二级密封腔包括上料密封腔，所述取料口包括开设在所述上料密封腔与所述一级密封腔之间的第一取料口，所述上料运料区位于所述上料密封腔内，所述上料运料区设置有上料直振轨道、放料轨道和放料梭，所述上料直振轨道与所述上料料管连通并承接所述上料料管中的电子元件，所述放料轨道设在所述上料直振轨道远离所述上料料管的一端，所述放料梭在所述放料轨道上往复运动，以将所述上料直振轨道上的电子元件运送至所述第一取料口，且所述放料梭中的电子元件通过所述第一取料口被搬运至所述测试区。6.根据权利要求5所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述上料密封腔包括连通的第一上料密封腔和第二上料密封腔，所述放料轨道远离所述上料直振轨道的一端置于所述第二上料密封腔内，所述第二上料密封腔的侧壁和/或顶壁上开设所述第一取料口。7.根据权利要求1～6任一项所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述测试区设置有预温盘和测试机构，所述预温盘对所承接的入料区的电子元件预温，预温后的电子元件运送至所述测试机构内测试。8.根据权利要求2～6任一项所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述二级密封
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“电子元件平移式测试分选机” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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编辑：管理员
来源：杭州长川科技股份有限公司
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2025年05月23日 ~ 25日 
