电子元件平移式测试分选机

权利要求书： 1.一种电子元件平移式测试分选机，具有电子元件低温测试功能，所述分选机包括料管、上料运料区、测试区和下料运料区，所述料管包括用于上料的上料料管和用于下料的下料料管，其特征在于，所述分选机还包括一级密封腔和二级密封腔，且所述一级密封腔中充有干燥气，所述测试区位于所述一级密封腔内，所述上料运料区和所述下料运料区位于所述二级密封腔内，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间、所述料管与所述二级密封腔之间能够连通，以承接所述电子元件。

2.根据权利要求1所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间开设取料口，并通过所述取料口实现所述电子元件在所述一级密封腔与所述二级密封腔之间的流转。

3.根据权利要求2所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述取料口上设有自动门和动力机构，所述动力机构控制所述自动门开合以实现所述取料口的打开和封闭。

4.根据权利要求3所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述动力机构选自气缸，所述气缸的前端还设有限制所述气缸伸出行程的限位块。

5.根据权利要求2所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述二级密封腔包括上料密封腔，所述取料口包括开设在所述上料密封腔与所述一级密封腔之间的第一取料口，所述上料运料区位于所述上料密封腔内，所述上料运料区设置有上料直振轨道、放料轨道和放料梭，所述上料直振轨道与所述上料料管连通并承接所述上料料管中的电子元件，所述放料轨道设在所述上料直振轨道远离所述上料料管的一端，所述放料梭在所述放料轨道上往复运动，以将所述上料直振轨道上的电子元件运送至所述第一取料口，且所述放料梭中的电子元件通过所述第一取料口被搬运至所述测试区。

6.根据权利要求5所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述上料密封腔包括连通的第一上料密封腔和第二上料密封腔，所述放料轨道远离所述上料直振轨道的一端置于所述第二上料密封腔内，所述第二上料密封腔的侧壁和/或顶壁上开设所述第一取料口。

7.根据权利要求1～6任一项所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述测试区设置有预温盘和测试机构，所述预温盘对所承接的入料区的电子元件预温，预温后的电子元件运送至所述测试机构内测试。

8.根据权利要求2～6任一项所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述二级密封腔包括下料密封腔，所述取料口包括开设在所述下料密封腔与所述一级密封腔之间的第二取料口，所述下料运料区位于所述下料密封腔内，所述测试区的电子元件通过所述第二取料口被搬运至所述下料运料区，所述下料运料区设置有下料轨道、下料轨道和下料梭，所述下料料管与所述下料轨道连通并承接所述下料轨道中的电子元件，所述下料轨道设在所述下料轨道远离所述下料料管的一侧，所述下料梭在所述下料轨道上往复运动，以将所述电子元件从所述第二取料口处运送至所述下料轨道。

9.根据权利要求8所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述下料密封腔包括连通的第一下料密封腔和第二下料密封腔，所述下料轨道远离所述下料轨道的一端置于所述第二下料密封腔内，所述第二下料密封腔的侧壁和/或顶壁上开设所述第二取料口。

10.根据权利要求1～6、9任一项所述的电子元件平移式测试分选机，其特征在于，所述二级密封腔的腔壁上开设通孔，所述料管通过所述通孔与所述二级密封腔连通。

说明书： 一种电子元件平移式测试分选机技术领域[0001] 本实用新型涉及芯片测试设备技术领域，具体涉及一种电子元件平移式测试分选。

背景技术[0002] 现今科技不断发展和创新，集成电路(integratedcircuit，简称IC)的应用和需求也越来越多，由于电子元件在生产过程中需要经过多道精密的制作过程，因此在电子元

件出厂销售之前，必须经过一系列的电性能检测，来确保电子元件的产品质量。但随着电子

元件功能不断的发展完善，对于电子元件的测试环境要求也越来越高，测试需求也越来越

广泛。

[0003] 目前市场上的分选机类型可以分为重力式分选机、平移式分选机、自动化分选机和探针台等，无引脚或引脚较短种类的电子元件如QFN、QFP，一般在平移式三温分选机进行

电性能测试，而有引脚类的电子元件如SOP8、SOP16，由于只能采用料管上下料，因此只能在

重力式分选机上进行电性能测试，但重力式分选机存在配套元件价格昂贵、换测时间长、运

转处理流程复杂、产能低等问题。而平移式三温测试分选机配套元件价格相对便宜、运转处

理简单且产能高，因此平移式三温测试分选机设备的逐渐被推广应用，并尝试用于带引脚

产品的电性能测试上。

[0004] 平移式分选机又分为常高温测试分选机和三温测试分选机,其中常高温测试分选机主要为电子元件提供常温和高温两种测试环境，此类分选机由于没有低温的干扰，设计

难度低，故障率低，上料收料方式多样，没有密封要求，但测试不全面；而三温测试分选机，

主要为电子元件提供低温、常温、高温各种温度节点的测试环境，测试全面，可以满足高精

度高功能的电子元件测试规范，从而保证电子元件出货时的产品质量。但当三温测试分选

机处于低温测试环境时，空气中的水汽达到一定含量便会凝结，造成凝霜结露现象，影响测

试效果，为了解决低温测试时凝霜结露的问题，现有技术中在三温测试分选机的测试区设

置密封腔，并向密封腔中充干燥气，保证测试区为干燥环境，以减少水汽含量，并降低露点，

但三温测试分选机的体积较大，其测试区的密封一般是通过玻璃罩和金属薄板实现，金属

薄板密封效果较差，造成干燥气的大量逸散，且外界水汽也会进入密封腔内，从而对凝霜结

露现象改善不明显。

实用新型内容

[0005] 本实用新型的目的在于公开一种电子元件平移式测试分选，以至少部分地解决上述问题。

[0006] 为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：[0007] 一种电子元件平移式测试分选机，具有电子元件低温测试功能，所述分选机包括料管、上料运料区、测试区和下料运料区，所述料管包括用于上料的上料料管和用于下料的

下料料管，所述分选机还包括一级密封腔和二级密封腔，且所述一级密封腔中充有干燥气，

所述测试区位于所述一级密封腔内，所述上料运料区和所述下料运料区位于所述二级密封

腔内，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间、所述料管与所述二级密封腔之间能够连通，

以承接所述电子元件。

[0008] 采用本方案的有益效果：[0009] 本方案中的移式测试分选机采用料管上下料，使其同时具有无引脚和有引脚电子元件的三温测试功能，增强其功能性，扩大其适用范围，同时降低有引脚的电子元件的测试

成本，减少运转处理难度，提高产能，且料管上下料可以直接散料上下料，节省摆盘工序，以

达到降本提效的目的。

[0010] 基于现有技术三温测试分选机只在测试区设置密封腔，导致干燥气大量逸散的问题，本方案中，除了在测试区设置密封外，紧挨测试区的上料运料区和下料运料区也设置密

封，以增大密封范围，降低和减缓测试密封腔内干燥气的逸散，保证测试区的干燥环境，提

升防霜结露效果。

[0011] 测试区与上料运料区和下料运料区分别密封，测试区为一级密封区，上料运料区和下料运料区为二级密封区，以形成二级密封结构，相较于将测试区与上料运料区和下料

运料区设置为一个腔体的整体密封腔，二级密封结构的设置，干燥气主要集中在一级密封

腔，其空间较小，更能保证测试区内干燥气的浓度。

[0012] 同时，一级密封腔逸散的干燥气会流入二级密封腔中，使上料运料区和下料运料区也处于干燥环境中，上料运料区处于高温环境中，使电子元件在上料运料过程中已进行

干燥，避免电子元件向测试区上料时将水汽带入测试区而在低温测试时出现凝霜结露，进

一步提升防霜结露效果；下料运料区处于高温环境中，并使电子元件测试完后，继续处于干

燥状态，避免高温测试后电子元件出料时仍带有较高温度，进入外界温度后其表面容易凝

霜结露，从而影响电子元件的质量和性能。

[0013] 作为优选，所述一级密封腔与所述二级密封腔之间开设取料口，并通过所述取料口实现所述电子元件在所述一级密封腔与所述二级密封腔之间的流转，通过取料口，将电

子元件由上料运料区取出并放入测试区进行测试，或将测试完成后的电子元件从测试区取

出并放入下料运料区进行下料，以实现电子元件从上料至下料整个流程的运转。

[0014] 作为优选，所述取料口上设有自动门和动力机构，所述动力机构控制所述自动门开合以实现所述取料口的打开和封闭，通过动力机构控制自动门开合的精度，以与电子元

件的取拿精确配合，使取料时自动门打开，取料完成后自动门关闭，保证上料运料区、下料

运料区与测试区的分隔和各自密封效果，减少干燥气由一级密封腔向二级密封腔的逸散，

保证测试区干燥气的浓度。

[0015] 作为优选，所述上料区还设有限制所述动力机构行程的限位块，通过限制动力机构行程来控制自动门打开幅度，在保证电子元件顺利取出的情况下，又不会因为打开太大

而延长开合时间以影响工作效率和密封效果。

[0016] 作为优选，所述二级密封腔包括上料密封腔，所述取料口包括开设在所述上料密封腔与所述一级密封腔之间的第一取料口，所述上料运料区位于所述上料密封腔内，所述

上料运料区设置有上料直振轨道、放料轨道和放料梭，所述上料直振轨道与所述上料料管

连通并承接所述上料料管中的电子元件，所述放料轨道设在所述上料直振轨道远离所述上

料料管的一端，所述放料梭在所述放料轨道上往复运动，以将所述上料直振轨道上的电子

元件运送至所述第一取料口，且所述放料梭中的电子元件通过所述第一取料口被搬运至所

述测试区。

[0017] 上料运料区采用上述装置，上料时，电子元件散料通过料管进入上料直振轨道，并运动至上料直振轨道尾端，再通过放料梭在放料轨道上的运动将电子元件运送至第一取料

口处，以便于电子元件的取拿，实现精准取料，通过上料直振轨道、放料轨道和放料梭的上

料运料组合，实现平移式测试分选机和料管上料的结合，使无引脚和有引脚的电子元件均

可通过平移式测试分选机进行电学性能的测试，增强平移式测试分选机的功能性，降低测

试成本和运转处理难度，提高产能。同时，电子元件通过放料梭运输，防止其在运送过程中

滑落或损坏，提高电子元件运送时的安全性和稳定性，且放料梭在放料轨道上往复运动的

频率固定，以使上料均匀有序进行。

[0018] 作为优选，所述上料密封腔包括连通的第一上料密封腔和第二上料密封腔，所述放料轨道远离所述上料直振轨道的一端置于所述第二上料密封腔内，所述第二上料密封腔

的侧壁和/或顶壁上开设所述第一取料口，相较于第一上料密封腔，第二上料密封腔更靠近

测试区，精简了取料途径，提高取料效率。

[0019] 作为优选，所述测试区设置有预温盘和测试机构，所述预温盘对所承接的入料区的电子元件预温，预温后的电子元件运送至所述测试机构内测试，电子元件进入测试机构

前先根据测试所需温度进行预温，节省了在测试机构中的升温、降温时间，提高测试效率。

[0020] 作为优选，所述二级密封腔包括下料密封腔，所述取料口包括开设在所述下料密封腔与所述一级密封腔之间的第二取料口，所述下料运料区位于所述下料密封腔内，所述

测试区的电子元件通过所述第二取料口被搬运至所述下料运料区，所述下料运料区设置有

下料轨道、下料轨道和下料梭，所述下料料管与所述下料轨道连通并承接所述下料轨道中

的电子元件，所述下料轨道设在所述下料轨道远离所述下料料管的一侧，所述下料梭在所

述下料轨道上往复运动，以将所述电子元件从所述第二取料口处运送至所述下料轨道。

[0021] 下料运料区采用上述装置，测试后的电子元件通过第二取料口被搬运至等待在第二取料口处的下料梭中，实现精准放料，下料梭在下料轨道上的运动将电子元件运送至下

料轨道上，再通过下料轨道进入下料料管中实现下料，通过下料轨道、下料轨道和下料梭的

下料运料组合，实现平移式测试分选机和料管下料的结合，使无引脚和有引脚的电子元件

再测试完之后能够从平移式测试分选机上顺利下料而不影响后续测试。同时，电子元件通

过下料梭运输，防止其在运送过程中滑落或损坏，提高电子元件运送时的安全性和稳定性，

且下料梭在下料轨道上往复运动的频率固定，以使下料均匀有序进行。

[0022] 作为优选，所述下料密封腔包括连通的第一下料密封腔和第二下料密封腔，所述下料轨道远离所述下料轨道的一端置于所述第二下料密封腔内，所述第二下料密封腔的侧

壁和/或顶壁上开设所述第二取料口，相较于第一下料密封腔，第二下料密封腔更靠近测试

区，精简了放料途径，提高放料效率。

[0023] 作为优选，所述二级密封腔的腔壁上开设通孔，所述料管通过所述通孔与所述二级密封腔连通，通过通孔实现二级密封腔内外的料管和直振轨道的连通，上料料管中的电

子元件散料通过通孔进入上料直振轨道上，下料轨道上的电子元件通过通孔进入下料料管

中。

[0024] 实用新型的这些特点和优点将会在下面的具体实施方式、附图中详细的揭露。附图说明[0025] 下面结合附图对实用新型做进一步的说明：[0026] 图1为本实用新型一级密封腔和二级密封腔布局示意图。[0027] 图2为本实用新型上料运料区某一视角结构示意图，并显示了上料密封腔的局部结构。

[0028] 图3为本实用新型上料密封腔局部结构示意图。[0029] 图4为本实用新型电子元件平移式测试分选机俯视图，并显示了二级密封腔的局部结构。

[0030] 附图标记：[0031] 100、上料运料区；110、上料直振轨道；120、放料轨道；130、放料梭；140、第一NPN机械手；

[0032] 200、测试区；210、第一机械手；220、预温盘；230、测试机构；240、入料轨道；250、入料梭；260、出料轨道；270、出料梭；280、手工收料管；[0033] 300、下料运料区；310、下料轨道；320、下料轨道；330、下料梭；340、第四机械手；350、第二NPN机械手；

[0034] 410、上料料管；420、下料料管；[0035] 500、测试密封腔；[0036] 600、上料密封腔；610、第一上料密封腔；611、第一上料密封腔前壁；6111、观测密封门；620、第二上料密封腔；621、第二上料密封腔顶壁；6211、第一取料口；622、第二上料密

封腔侧壁；630、第一自动门；640、第一动力机构；650、第一限位块；

[0037] 700、下料密封腔；710、第一下料密封腔；720、第二下料密封腔；721、第二下料密封腔顶壁；730、第二自动门；740、第二动力机构；750、第二限位块；

[0038] 800、基板。具体实施方式[0039] 下面结合本实用新型实施例的附图对本实用新型实施例的技术方案进行解释和说明，但下述实施例仅为本实用新型的优选实施例，并非全部。基于实施方式中的实施例，

本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得其他实施例，都属于本实用新型的

保护范围。

[0040] 在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、

以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

[0041] 此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者

隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义

是两个或两个以上，除非另有明确的限定。

[0042] 在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是

两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语

在本实用新型中的具体含义。

[0043] 在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通

过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第

一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特

征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅

表示第一特征水平高度小于第二特征。

[0044] 本实用新型中所提到的装置的“前端”和“尾端”均是以电子元件的流转方向来定义，将电子元件流入某装置的一端定义为“前端”，电子元件流出某装置的一端定义为“尾

端”。

[0045] 下面结合附图与具体实施方式对本实用新型的电子元件平移式测试分选机作进一步详细描述：

[0046] 以下以同时具有电子元件高温、常温和低温测试功能的平移式三温测试分选机为例对本实用新型进行说明，但是本领域技术人员可以理解，本实用新型也可以适用于只具

有低温测试功能的平移式低温测试分选机上，也可以适用于同时具有低温测试和常温测试

功能，或者同时具有低温测试和高温测试功能的平移式两温测试分选机上。

[0047] 平移式三温测试分选机，包括下方的基板800，在基板800上依次设置有上料运料区100、测试区200和下料运料区300，电子元件由上料运料区100运入测试区200并进行测试

后，再通过下料运料区300下料。

[0048] 现有技术中的平移式三温测试分选机的一般采用料盒或料盘的上下料方式，使其只能用于无引脚或引脚较短种类的电子元件的测试，而带有引脚的电子元件则因为需要采

用料管上下料，只能在重力式分选机上进行电性能测试，而重力式分选机存在配套元件价

格昂贵、换测时间长、运转处理流程复杂、产能低的问题。

[0049] 为了降低有引脚的电子元件的测试成本，减少运转处理难度，提高产能，参照图4，根据本实用新型的一个实施例，平移式三温测试分选机上设置料管，以实现带有引脚的电

子元件通过料管在平移式三温测试分选机上的上下料，进而在平移式三温测试分选机进行

性能测试。

[0050] 参照图4，平移式三温测试分选机上的料管具体包括用于上料的上料料管410和用于下料的下料料管420，上料料管410与上料运料区100配合实现电子元件散料的上料，下料

料管420与下料运料区300配合实现测试后的电子元件的下料。

[0051] 为了实现上料料管410在平移式三温测试分选机上的上料，参照图1和图4，本实施例中的上料运料区100具体设置有上料直振轨道110、放料轨道120和放料梭130，上料直振

轨道110与上料料管410连通并承接上料料管410中的电子元件，放料轨道120设在上料直振

轨道110远离上料料管410的一端，放料轨道120远离上料直振轨道110的一端靠近测试区

200，放料梭130设在放料轨道120上并能在放料轨道120上往复运动。

[0052] 上料时，上料料管410尾端附近的电子元件经吹气后进入上料直振轨道110，并运动至上料直振轨道110的尾端，上料直振轨道110的尾端设有第一NPN机械手140，第一NPN机

械手140将上料直振轨道110尾端的电子元件搬运至放料梭130中，放料梭130在放料轨道

120上向前运动至靠近测试区200的位置处，测试区200设置有第一机械手210，通过第一机

械手210将放料梭130中的电子元件搬运至测试区200。

[0053] 为了提高电子元件输送工作效率，优选的，上料直振轨道110尾端左右两侧分别设置有两条放料轨道120和两个第一NPN机械手140，两条放料轨道120上分别设有放料梭130，

两个放料梭130交替作业，两个第一NPN机械手140交替从上料直振轨道110尾端取料并分别

放至两个放料梭130中，以达到高效生产的目的。

[0054] 通过上料直振轨道110、放料轨道120和放料梭130的上料运料组合，实现平移式测试分选机和料管上料的结合，使有引脚的电子元件可通过平移式测试分选机进行电学性能

的测试，增强平移式测试分选机的功能性，降低测试成本和运转处理难度，提高产能。同时，

电子元件通过放料梭130运输，防止其在运送过程中滑落或损坏，提高电子元件运送时的安

全性和稳定性，且放料梭130在放料轨道120上往复运动的频率固定，以使上料均匀有序进

行。

[0055] 测试区200设置有预温盘220和测试机构230，第一机械手210将放料梭130中的电子元件搬运至预温盘220中，预温盘220对电子元件预温后，电子元件运送至测试机构230内

测试，电子元件进入测试机构230前先根据测试所需温度进行预温，节省了在测试机构230

中的升温、降温时间，提高测试效率。

[0056] 具体的，预温盘220和测试机构230之间设有入料轨道240，入料轨道240上设有入料梭250，入料梭250在入料轨道240上往复运动。

[0057] 预温后的电子元件由第一机械手210取出并放入入料梭250中。[0058] 当然，在其他实施例中，也可以在预温盘220与测试机构230之间另设第二机械手，预温后的电子元件由第二机械手取出并放入入料梭250中。

[0059] 测试机构230处设有第三机械手。[0060] 入料梭250将电子元件输送至测试机构230位置处，第三机械手将入料梭250中的电子元件取出后放入测试机构230中进行测试。

[0061] 优选的，入料轨道240设置两条，两条入料轨道240上分别设有入料梭250，两个入料梭250交替工作，形成两条输送通道，以与上料运料区100中两条放料通道配合使用，提高

入料效率。

[0062] 优选的，第三机械手设有两个，分别用于取放两个入料梭250中的电子元件，两个第三机械手交替工作，以提高测试效率，并减少干涉。

[0063] 为了将测试完成的电子元件运出测试机构230，测试机构230远离预温盘220的一侧设有出料轨道260，出料轨道260上设有出料梭270，出料梭270在出料轨道260上往复运

动，测试完成后的电子元件被第三机械手取出后放入出料梭270，并通过出料梭270输送至

下料运料区300。

[0064] 优选的，出料轨道260设置两条，两条出料轨道260上分别设有出料梭270，以形成两条出料通道，两个出料梭270交替工作，以与两个第三机械手配合使用。

[0065] 本实施例中的三温测试分选机低温测试时通过冷媒机提供制冷，高温测试时通过加热棒提供制热，用于电子元件的三温测试机构为现有技术，本实施例中不再一一赘述。

[0066] 为了实现下料料管420在平移式三温测试分选机上的下料，本实施例中的下料运料区300设置有下料轨道310、下料轨道320、下料梭330、第四机械手340和第二NPN机械手

350，下料料管420与下料轨道310连通并承接下料轨道310中的电子元件，下料轨道320设在

下料轨道310远离下料料管420的一侧，下料轨道320远离下料轨道310的一端靠近测试区

200，下料梭330在下料轨道320上往复运动。

[0067] 下料时，第四机械手340将出料梭270中的电子元件搬运至下料梭330中，通过下料梭330的运动至靠近下料轨道310的前端处，第二NPN机械手350将下料梭330中的电子元件

搬运至下料轨道310的前端，通过下料轨道310的振动作用和吹气，电子元件经过下料轨道

310的尾端进入下料料管420，并在吹气作用下运动至下料料管420的尾端，完成下料。

[0068] 为了提高电子元件输送工作效率，优选的，上料直振轨道110尾端左右两侧分别设置有两条下料轨道320和两个第二NPN机械手350，两条下料轨道320上分别设有下料梭330，

两个下料梭330交替作业，形成两条下料通道，以与测试区200中两条放料通道配合使用，提

高下料效率，两个第二NPN机械手350交替从两个下料梭330中取料并分别放入直振轨道前

端，以达到高效生产的目的。

[0069] 通过下料轨道310、下料轨道320和下料梭330的下料运料组合，实现平移式测试分选机和料管下料的结合，使有引脚的电子元件再测试完之后能够从平移式测试分选机上顺

利下料而不影响后续测试。同时，电子元件通过下料梭330运输，防止其在运送过程中滑落

或损坏，提高电子元件运送时的安全性和稳定性，且下料梭330在下料轨道320上往复运动

的频率固定，以使下料均匀有序进行。

[0070] 为了测试不合格的电子元件分开收料，测试区200中还设有手工收料管280，检测不合格的电子元件从测试机构230中出来后，经出料梭270直接送至手工收料管280中。

[0071] 本实施例中的平移式三温测试分选机采用料管上下料，使其同时具有无引脚和有引脚电子元件的三温测试功能，增强其功能性，扩大其适用范围，同时降低有引脚的电子元

件的测试成本，减少运转处理难度，提高产能，且料管上下料可以直接散料上下料，节省摆

盘工序，以达到降本提效的目的。

[0072] 当三温测试分选机处于低温测试环境时，空气中的水汽达到一定含量便会凝结，造成凝霜结露现象，影响测试效果，为了防止低温测试时凝霜结露，现有技术中会在测试区

200处设置测试密封腔500，且测试密封腔500内充有干燥气，实现测试区200的密封和干燥，

以在低温检测时起到防凝霜结露的功能。

[0073] 但三温测试分选机的体积较大，其测试密封腔500一般是由上方的玻璃罩和周围的金属薄板围成，金属薄板与基板800的密封效果较差，会造成干燥气向外界大量逸散，且

外界水汽也会进入密封腔内，从而对凝霜结露现象改善不明显。

[0074] 为了解决上述技术问题，参照图1，根据本实用新型的一个实施例，上料运料区100和下料运料区300处也设置密封腔，以在分选机上形成二级密封结构，测试密封腔500为一

级密封腔，上料运料区100和下料运料区300的密封腔为二级密封腔，一级密封腔与二级密

封腔之间、料管与二级密封腔之间能够连通，以承接电子元件。

[0075] 本实施例中除了在测试区200设置密封外，紧挨测试区200的上料运料区100和下料运料区300也设置密封，以增大密封范围，降低和减缓一级密封腔内干燥气的逸散，保证

测试区200的干燥环境，提升防止凝霜结露的效果。

[0076] 测试区200与上料运料区100和下料运料区300分别密封，测试区200为一级密封区，上料运料区100和下料运料区300为二级密封区，以形成二级密封结构，相较于将测试区

200与上料运料区100和下料运料区300设置为一个腔体的整体密封腔，二级密封结构的设

置，干燥气主要集中在一级密封腔，其空间较小，更能保证测试区200内干燥气的浓度。

[0077] 同时，一级密封腔逸散的干燥气会流入二级密封腔中，使上料运料区100和下料运料区300也处于干燥环境中，上料运料区100处于相对高温环境中，使电子元件在上料运料

过程中已进行干燥，避免电子元件向测试区200上料时将水汽带入测试区200而在低温测试

时出现凝霜结露，进一步提升防止凝霜结露的效果；下料运料区300处于相对高温环境中，

并使电子元件测试完后，继续处于干燥状态，低温测试后电子元件出料时仍带有较低温度，

干燥的环境能避免进入下料运料区300的电子元件表面出现凝霜结露，从而影响电子元件

的质量和性能。

[0078] 为了实现一级密封腔与二级密封腔的连通，一级密封腔与二级密封腔之间开设取料口，通过取料口，将电子元件由上料运料区100取出并放入测试区200进行测试，或将测试

完成后的电子元件从测试区200取出并放入下料运料区300进行下料，以实现电子元件从上

料至下料整个流程的运转。

[0079] 如图1所示，由于上料运料区100和下料运料区300分别位于测试区200的两侧，因此二级密封腔包括上料密封腔600和下料密封腔700，上料运料区100位于上料密封腔600

内，下料运料区300位于下料密封腔700内。

[0080] 如图1～图3所示，为了实现上料密封腔600与一级密封腔的连通，上料密封腔600与一级密封腔之间设有第一取料口6211，具体的，上料密封腔600包括连通的第一上料密封

腔610和第二上料密封腔620，上料直振轨道110、放料轨道120的前端位于第一上料密封腔

610内，放料轨道120的后端位于第二上料密封腔620内，第一取料口6211设在第二上料密封

腔顶壁621上，上料时，放料梭130在放料轨道120上的运动至第一取料口6211处，第一机械

手210通过第一取料口6211将放料梭130中的电子元件取出并搬运至测试区200的预温盘

220中，实现精准取料。

[0081] 当然，在其他实施例中，第一取料口6211也可以设在第二上料密封腔侧壁622上。[0082] 为了同时实现取料和减少干燥气流通的功能，第一取料口6211上设有第一自动门630和控制第一自动门630开合的第一动力机构640，第一动力机构640优选气缸，通过气缸

中推杆伸缩带动第一自动门630开合，并控制推杆运动精度，以使取料时第一自动门630打

开，与电子元件的取拿精确配合，取料完成后第一自动门630关闭，保证上料运料区100与测

试区200的分隔和各自密封效果，减少干燥气由第一密封腔向上料密封腔600的逸散，保证

第一密封腔内干燥气的浓度。

[0083] 为了限制第一自动门630打开幅度，气缸前端还设有限制气缸伸出行程的第一限位块650，通过限制气缸伸出行程来控制第一自动门630打开幅度，在保证电子元件顺利取

出的情况下，又不会因为打开太大而延长开合时间，并影响工作效率和密封效果。

[0084] 当然，在其他实施例中，第一动力机构640也可以为电动丝杆或电动皮带轮等。[0085] 上料料管410位于上料密封腔600外，为了实现上料料管410与上料直振轨道110的连通，上料密封腔600远离一级密封腔的腔壁上设有第一通孔(图中未示出)，上料料管410

中的电子元件通过第一通孔吹入上料直振轨道110上。

[0086] 为了实现下料密封腔700与一级密封腔的连通，下料密封腔700与一级密封腔之间设有第二取料口，具体的，下料密封腔700包括连通的第一下料密封腔710和第二下料密封

腔720，下料轨道310、下料轨道320的后端位于第一上料密封腔610内，下料轨道320的前端

位于第二下料密封腔720内，第二取料口(图中未示出)设在第二下料密封腔顶壁721上，下

料时，下料梭330在放料轨道120上的运动至第二取料口处，第四机械手340通过第二取料口

将出料梭270中的电子元件搬运至下料梭330中，实现精准取料。

[0087] 当然，在其他实施例中，第二取料口也可以设在第二下料密封腔720的侧壁上。[0088] 为了同时实现取料和减少干燥气流通的功能，第二取料口上设有第二自动门730和控制第二自动门730开合的第二动力机构740，第二动力机构740优选气缸，通过气缸中推

杆伸缩带动第二自动门730开合，并控制推杆运动精度，以使取料时第二自动门730打开，与

电子元件的取拿精确配合，取料完成后第二自动门730关闭，保证下料运料区300与测试区

200的分隔和各自密封效果，减少干燥气由第一密封腔向下料密封腔700的逸散，保证第一

密封腔内干燥气的浓度。

[0089] 为了限制第二自动门730打开幅度，气缸前端还设有限制气缸伸出行程的第二限位块750，通过限制气缸伸出行程来控制第二自动门730打开幅度，在保证电子元件顺利取

出的情况下，又不会因为打开太大而延长开合时间，并影响工作效率和密封效果。

[0090] 当然，在其他实施例中，第二动力机构740也可以为电动丝杆或电动皮带轮等。[0091] 下料料管420位于下料密封腔700外，为了实现下料轨道310与下料料管420与的连通，下料密封腔700远离一级密封腔的腔壁上设有第二通孔(图中未示出)，上料直振轨道

110上的电子元件通过第二通孔吹入下料料管420中。

[0092] 为了简化结构，降低加工难度，本实施例中是通过在上料运料区100、测试区200和下料运料区300上方罩设密封罩形成密封空间，再通过隔板将密封空间分隔成一级密封腔、

上料密封腔600和下料密封腔700，为了便于加工，保证强度，并降低成本，密封罩的四周为

金属薄板，顶壁则为透明玻璃，以便观察移式三温测试分选机内部运行情况，当然四周的金

属薄板上也可以开设窗口，窗口处安装透明玻璃，以便从多个方位观察内部运行情况，隔板

则也优选金属薄板隔板，以下具体介绍上料密封腔600的结构：

[0093] 上料密封腔600与一级密封腔之间的隔板具体包括由上向下延伸的第一隔板，第一隔板位于放料轨道120的位置处切设缺口，以使放料梭130从缺口处穿入穿出，隔板还包

括由缺口上边沿向一级密封腔方向延伸的第二隔板，和由缺口侧边沿向一级密封腔方向延

伸的第三隔板和挡在第二隔板和第三隔板前端的第四隔板，第二隔板、第三隔板、第四隔板

和下方的基板800形成用于密封放料轨道120的密封组件，并围成上述第二上料密封腔620，

第一隔板形成第一上料密封腔前壁611，第二隔板形成第二上料密封腔顶壁621，第三隔板

形成第二上料密封腔侧壁622，第一上料密封腔前壁611与第二上料密封腔顶壁621形成台

阶部，优选第一取料口6211开设在第二上料密封腔顶壁621上，同时，第一自动门630、第一

动力机构640和第一限位块650也设置在第二上料密封腔顶壁621上。

[0094] 如图1～图3所示，为了对上料运料区100进行观察或维修，第一上料密封腔前壁611上设有观测密封门6111，上料直振轨道110或放料梭130发生故障或整机叠料翘料时，便

于故障被被人工及时发现，并保障后续的维护整改。

[0095] 下料密封腔700与上料密封腔600的结构相同，并对称设置于一级密封腔两侧，因此对下料密封腔700的构造不再另加赘述。

[0096] 本实用新型中电子元件三温测试分选机的工作过程如下：[0097] 操作员将盛有电子元件的上料料管410放置在上料位置，电子元件在吹气作用下被吹入上料直振轨道110，并在吹气和上料直振轨道110振动的协同作用下运动至上料直振

轨道110的尾端，第一NPN机械手140将直振轨道尾端的电子元件搬运至放料梭130中，放料

梭130在放料轨道120上运动至第一取料口6211位置，此时第一自动门630在气缸作用下打

开，第一机械手210通过第一取料口6211将放料梭130中的电子元件取走，第一自动门630又

在气缸作用下关闭，放料梭130回到转盘放料端继续接料；第一机械手210将从放料梭130中

取走的电子元件放入预温盘220中预温后，第一机械手再将预温后的电子元件放入入料梭

250，入料梭250沿入料轨道240将电子元件运输到测试机构230位置处，第三机械手将入料

梭250中的电子元件取出后放入测试机构230中进行测试，测试完成的电子元件放入出料梭

270，测试不合格的电子元件通过出料梭270经第四机械手340运送至手工收料管280中，测

试合格的电子元件被出料梭270沿出料轨道260将电子元件运输到靠近下料运料区300的位

置处；此时，下料梭330位于第二取料口的位置，第四机械手340通过第二取料口将出料梭

270中的电子元件搬运至下料梭330中，下料梭330在下料轨道320上运动至靠近下料轨道

310的前端处，第二NPN机械手350将下料梭330中的电子元件搬运至下料轨道310上，通过吹

气和下料轨道310振动的协同作用，电子元件经过下料轨道310进入下料料管420，并在吹气

作用下完成下料。

[0098] 以上所述，仅为实用新型的具体实施方式，但实用新型的保护范围并不局限于此，熟悉该本领域的技术人员应该明白实用新型包括但不限于附图和上面具体实施方式中描

述的内容。任何不偏离实用新型的功能和结构原理的修改都将包括在权利要求书的范围

中。