权利要求书： 1.一种U型同步测厚仪，包括机架(10)，所述机架(10)内部设有用于移动片材的传送辊(11)，其特征在于，所述机架(10)上还设有立架(12)，所述立架(12)上下两端分别设有一个滑轨(20)，所述滑轨(20)上滑设有滑座(21)，两个所述滑座(21)对向设置且二者其中之一上设有X射线发射器(31)，另一个上设有X射线接收器(32)，所述机架(10)上还设有绕绳辊(25)以及用于控制绕绳辊(25)转动的动力轴(26)，所述绕绳辊(25)外侧缠绕有拉绳(24)，所述拉绳(24)中部与所述绕绳辊(25)固定连接，所述拉绳(24)一端与一个所述滑座(21)固定连接，所述拉绳(24)另一端与另一个所述滑座(21)固定连接，所述滑座(21)与所述立架(12)之间还设有用于控制所述滑座(21)复位的压簧(22)。2.根据权利要求1所述的一种U型同步测厚仪，其特征在于，所述立架(12)上还设有用于改变所述拉绳(24)移动方向的定滑轮(23)。3.根据权利要求1所述的一种U型同步测厚仪，其特征在于，一个所述滑座(21)上连接有第一伸缩线(33)，另一个所述滑座(21)上连接有第二伸缩线(34)，所述第一伸缩线(33)一端连接有处理器，所述第一伸缩线(33)另一端与所述X射线发射器(31)电性连接，所述第二伸缩线(34)一端与处理器电性连接，所述第二伸缩线(34)另一端与所述X射线接收器(32)电性连接。4.根据权利要求1所述的一种U型同步测厚仪，其特征在于，所述滑轨(20)一端与所述立架(12)固定连接，所述立架(12)另一端设有用于限制所述滑座(21)滑动范围的限位块(30)，所述限位块(30)与所述滑轨(20)固定连接。 说明书： 一种U型同步测厚仪技术领域[0001] 本实用新型涉及测厚仪领域，特别地，涉及一种U型同步测厚仪。背景技术[0002] 测厚仪主要用于测量片材的厚度，由于部分频率的光谱穿过不同厚度的片材时光谱强度会减弱，因此通过检测特定频率、固定强度的光谱穿过片材前后的强度变化经计算可得出片材厚度。[0003] 现有的片材厚度光谱检测设备通常包括一个X射线发射器与一个X射线接收器，二者分别安装于片材两侧的滑轨上，采用两个步进电机利用程序控制X射线发射器与
声明：
“U型同步测厚仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：管理员
来源：杭州扬涛科技有限公司
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2025年06月20日 ~ 22日 
