有色金属分析检测技术理论与应用

抽水蓄能发电电动机转子T尾部剩余使用寿命的预测方法 942     

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一种抽水蓄能发电电动机转子T尾部剩余使用寿命的预测方法，该方法包括以下步骤：1）电磁场计算：通过电磁场计算得到结构场计算所需的激励源输入，即电磁力；2）结构场计算；3）绘制修正后的S-N曲线；4）通过步骤3）得到的修正后的S-N曲线和步骤1）及2）的计算结果对抽水蓄能发电电动机转子T尾部进行疲劳寿命预测，即完成抽水蓄能发电电动机转子T尾部剩余使用寿命的预测。本发明提供的一种抽水蓄能发电电动机转子T尾部剩余使用寿命的预测方法，将电机学领域未曾考虑多工况对疲劳失效的累积作用以及对S-N曲线进行修正并用于抽水蓄能发电电动机转子T尾部疲劳寿命评估，实现了对疲劳寿命做出准确预测。

基于在线监测的模块化多电平换流器维护方法及系统 939     

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本发明涉及一种基于在线监测的模块化多电平换流器维护方法及系统，该方法包括：获取模块化多电平换流器中各个桥臂的工作子模块失效数量维护阈值，所述桥臂包括工作子模块和冗余子模块；获取各个桥臂中从上一次停机维护累计失效的工作子模块数量；获取累计失效的工作子模块数量中的最大值；判断最大值是否达到工作子模块失效数量维护阈值；若是，则对模块化多电平换流器进行停机维护；维护完毕后，跳转至步骤获取各个桥臂中从上一次停机维护累计失效的工作子模块数量。本发明能够灵活的选择维护时间，提高模块化多电平换流器的可靠性。

高电压缓冲器模组以及电压侦测电路 863     

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本发明提供一种高电压缓冲器模组以及电压侦测电路,所述高电压缓冲器模组,适用于输入/输出缓冲器电路。输入/输出缓冲器电路耦接在高电压电路及低电压电路之间。高电压缓冲器模组操作于第一供应电压及互补于第一供应电压的第二供应电压之间。高电压缓冲器模组,包括,上拉模组以及电压侦测电路。上拉模组耦接于第一供应电压及输出节点之间,根据输入信号输出第一供应电压至输出节点。电压侦测电路用以从预设集合的电压位准中,选择至少一偏压于上拉模组,电压侦测电路是根据第一供应电压的降幅而选择偏压。本可使得单一栅极氧化层输出缓冲电路在任何操作电压下皆保持可操作的状态,以消除高压缓冲输出模组在低电压操作时所发生的失效状况。

存储器装置及其内置自测试方法 621     

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本发明提供一种存储器装置及其内置自测试方法，所述存储器装置包括自测试电路、存储单元阵列、电源电压产生器与列冗余地址替换电路。自测试电路，用以产生自测试数据信号与电源电压控制信号。存储单元阵列接收自测试数据信号并输出自测试失效信号。电源电压产生器依据电源电压控制信号产生电源电压。列冗余地址替换电路接收电源电压与自测试失效信号以提供冗余字线地址至存储单元阵列。电源电压产生器被配置为使电源电压在内置自测试模式小于一般模式。

软件加速生命测试方法 1034     

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本发明涉及的是软件性能测试领域，具体涉及一种利用加速生命测试理论对产生老化现象的软件进行寿命测试的软件加速生命测试方法。软件加速生命测试方法包括：添加注入内存故障的代码；设置加速水平的压力值N为4，8，12，16，运行程序；记录失效时间TTF，保存数据；估计软件寿命的样本分布，建立合适的寿命和压力之间的关系，估计非加速情况下被测试系统的平均失效时间的分布。本发明部署和实施针对发生老化现象的软件的加速生命测试，通过耗时较短的加速生命测试得到加速情况下软件的寿命数据，计算非加速情况下软件的真实寿命，在更短的时间内，得到软件正常使用情况下寿命的概率分布。

电池测试系统 812     

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本发明允许电池被测试同时被充电,并在将他们投入到进一步使用之前识别已失效或正在失效的电池。本发明能同时对多个电池进行测试和充电,且能同时对不同类型的电池进行测试和充电。根据本发明的各个方面的系统包含控制系统。该控制系统包括:(1)处理器,(2)与处理器通信的用户界面以及(3)与处理器通信的存储器。存储器储存指令,这些指令在由处理器执行时使处理器:识别所提供的待测试电池;并通过用户界面接收要对电池执行的一个或多个测试的选择。该系统还包括与控制系统通信的电池测试系统。电池测试系统包括用于与电池耦合的电池接口,且被配置为对电池执行一个或多个测试。

沥青隔离剂隔离性能测试及评价方法 831     

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本发明公开了一种沥青隔离剂隔离性能测试及评价方法，采用沥青隔离剂隔离性能试验装置对待测试沥青隔离剂的隔离性能进行测试与评价，过程如下：步骤一、沥青隔离剂涂刷；步骤二、拉拔测试；步骤三、有效隔离次数确定；步骤四、隔离性能测试及评价结果输出。本发明根据拉拔测试过程中需隔离基材上的沥青粘附率对待测试沥青隔离剂进行隔离性能失效判断并根据判断结果确定待测试沥青隔离剂的有效隔离次数，同时结合隔离性能失效前各拉拔测试过程中待测试沥青隔离剂的拉拔力测试结果对待测试沥青隔离剂的隔离性能进行评价，不需人工干预便能完成沥青隔离剂隔离性能测试及评价过程，所得出的隔离性能测试及评价结果准确、可靠，可操作性强。

基于结温归一化的逆变器IGBT老化在线监测方法及系统 593     

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本发明公开了一种基于结温归一化的逆变器IGBT键合线老化在线监测方法及系统，属于电力电子设备核心器件可靠性领域，包括：结合IGBT键合线的老化机理，建立老化模型；选择老化及结温的特征参数，结合老化模型推导特征识别式，并对逆变器IGBT模块进行参数识别；基于新型的集射极饱和压降V_{ce_on}采样电路，提出了一种在线监测逆变器IGBT键合线老化的方法；该采样电路可以捕获V_{ce_on}随集电极电流I_c而变化的全周期波形，从而获得老化及结温的特征参数以进行状态监测；通过结温归一化可以消除结温对于状态监测的干扰；最终，对比IGBT老化指标与老化阈值实时判断老化状态，并据此触发逆变器IGBT失效预警。

基于事件可达性模型的图形用户界面测试脚本修复方法 857     

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基于事件可达性模型的图形用户界面测试脚本修复方法，获取待测新版本GUI的控件元素之间的事件序列可达性关系，生成描述GUI结构和GUI控件事件调用可达性关系的模型；并对已有测试脚本进行剖析，得到原测试脚本的GUI测试操作序列；然后将GUI测试操作分类为关键操作和非关键操作，通过采用保留关键操作的方式，保留原测试脚本的测试逻辑；在事件可达性模型中搜索路径，在关键操作之间插入相应的粘合操作使得修复后的测试脚本能够在新版本GUI上正常回放，完成测试脚本的修复。本发明对失效的测试脚本进行修复，保证测试用例原有测试逻辑，减轻了测试人员的负担，解决了回归测试中GUI脚本失效的问题。

晶圆测试芯片状态图的分类方法 708     

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本发明公开了一种晶圆测试芯片状态图的分类方法，包括步骤：根据晶圆允收测试得到需要标记为失效测试项目类的指定芯片并将指定芯片的坐标记录在配置文件中；对晶圆进行分步测试，在执行当前测试步的下降接触前都对指定芯片的信息做判断并将位于下降接触区域的指定芯片排除在测试对象之外；进行当前测试步的芯片状态图的打印将对应指定芯片的状态打印为失效测试项目类；将各步测试得到的芯片状态图生成整片晶圆的芯片状态图。本发明能有效减少测试时间，能有效保护测试硬件，减少工序流程并有效减少出错几率和提高工作效率。

对半导体器件进行晶圆级老化测试的方法 728     

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本发明公开了一种对半导体器件进行晶圆级老化测试的方法,该方法包括:将测试探针接触晶圆上的半导体器件的压焊建立电学连接并进行初始测试;按照设置的老化测试规则通过测试探针对晶圆上的各个半导体器件施加电压应力,分别进行监控测试;判断测得的晶圆上的各个半导体器件的相关的电学参数是否符合所设置的对应老化判断标准,确定符合的晶圆为好且老化等级为判断标准;确定不符合的晶圆失效。本发明提供的方法降低了半导体器件的测试成本及提高半导体器件的测试效率。

处理器系统故障的预测与诊断方法和装置 733     

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本发明提供了一种处理器系统故障的预测与诊断方法和装置，处理器系统故障的预测与诊断方法包括以下步骤：利用数据清洗方法，构建结构化的故障样本数据集；利用贝叶斯网络模型，建立处理器系统故障的传播关系网络；利用LSTM网络，级联所述贝叶斯网络模型，对所述处理器系统的故障进行预测和诊断。所述处理器系统故障的预测与诊断装置适用于执行所述处理器系统故障的预测与诊断方法。该方法可以利用数据驱动的方式实现处理器系统“故障源‑系统失效行为”的双向概率推理，并利用模型级联的方式实现处理器系统故障的失效类型预测。

NTC表面测温温度传感器 838     

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本发明公开了一种NTC表面测温温度传感器，包括NTC热敏电阻和软排线或导线，所述NTC热敏电阻与软排线或导线焊接在一起形成焊点，且所述NTC热敏电阻及焊点热压封装在薄膜中。本发明将NTC热敏电阻与软排线或导线焊接在一起后，通过薄膜热压封装，并利用软排线连接器卡座，直接与PCB板连接；或导线引脚与PCB直接焊接。与现有技术相比，本发明利用软排线技术与薄膜封热敏电阻封装技术结合，制成的NTC表面测温温度传感器，解决了薄膜型温度传感器使用温区及应用范围较小、NTC温度传感器因工艺制作困难而出现的失效问题，该NTC表面测温温度传感器耐温区间为-50℃~270℃左右、耐2.8千伏高压，防水性能好，可靠性高，制造成本大大降低。

漏电保护器及用于该漏电保护器的测试电路 585     

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本实用新型提供了一种用于漏电保护器的测试电路，包括：测试线圈(T2)；输入电路(M6)，其响应于一个外部输入的测试指示信号而将其输出从第一电压切换至第二电压；比较电路(M7)，将所述输入电路(M6)的输出与一参考阈值比较，若比较结果指示出所述输入电路的输出为第二电压，则所述比较电路输出一个测试使能信号，否则输出一个测试失效信号；波形发生电路(M8)，连接到所述比较电路(M7)以及所述测试线圈(T2)，其响应于来自所述比较电路(M7)的所述测试使能信号而产生能够流经该测试线圈(T2)的交变电压，其响应于来自所述比较电路(M7)的所述测试失效信号而停止产生交变电压。

阀杆密封自动监测补偿及应急装置 1031     

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本发明公开了一种阀杆密封自动监测补偿及应急装置，涉及阀杆密封领域，由下至上依次为阀体上端、软填料、金属环、阀杆；金属环上端为带螺纹调料压紧件，阀杆穿过软填料、金属环和带螺纹填料压紧件；阀体上端顶端开有模压填料和密封O型圈槽；模压填料和密封O型圈上端为介质泄漏监测环；介质泄漏监测环的监测口安装介质泄漏监测传感器；介质泄漏监测传感器与可编程逻辑控制器相连；介质泄漏监测环上端为驱动轮、滚动钢珠和从动棘轮；驱动轮与微型液压缸相连；从动棘轮与带螺纹填料压紧件的间隙配合微型液压缸与微型液压泵相连；微型液压缸与可编程逻辑控制器相连。实现阀杆密封泄漏的实时监测，对软填料自动补偿以及完全失效的应急密封功能。

废旧机床关键零件剩余寿命预测评估方法 832     

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本发明涉及一种废旧机床关键零件剩余寿命预测评估方法，属于绿色再制造系统技术领域。该废旧机床关键零件剩余寿命预测评估方法，考虑机床关键零件的主要失效形式为疲劳断裂失效，采用基于断裂力学的连续疲劳损伤模型对废旧零件进行寿命预测，从而决定其可再制造性。本发明研究模型更符合实际工况，使预测评估结果更为准确；确保预测评估主轴关键零件模型的精度；确保模型计算剩余寿命的准确性；确保预测评估主轴关键零件模型的精度。同时，通过二级载荷加载疲劳试验的数据和模型的计算结果进行对比，验证了修正后模型的准确性、有效性和可行性。实践证明，本发明的剩余寿命预测与评估方法预测精度能够满足废旧零部件再制造性评估实际工程要求。

提高模拟滤波电路测试效率的方法 645     

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本发明涉及芯片测试电路设计领域。公开了一种提高模拟滤波电路(104)测试效率的方法。本方法可以改进现有对模拟滤波电路(104)串行、单个测试方法的不足，提出了一种能够同时对多个模拟滤波电路(104)进行测试的方法。该方法通过ATE(101)控制配置寄存器(102)开启模拟滤波电路(104)；通过控制电路(103)控制测试寄存器(105)的复位；通过配置寄存器(102)对测试寄存器(105)的输出结果通过与或选择器(106)进行选择。ATE(101)通过观测输出的结果判断模拟滤波电路(104)是否失效。同时，通过配置寄存器(102)开启部分模拟滤波电路(104)，可以使用二分法快速定位失效的模拟滤波电路(104)，进而提高测试效率。

柔性基板上金属薄膜疲劳寿命测试方法 798     

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本发明公开了一种柔性基板上金属薄膜疲劳寿命测试方法，包括对界面结合良好的金属薄膜/柔性基板体系进行整体循环应力加载下的疲劳测试，记录金属薄膜的应力－应变曲线和电阻变化－循环次数曲线，同时观察疲劳过程中不同循环次数下金属薄膜微观组织，得到金属薄膜表面损伤形貌－电阻变化－循环次数曲线。将电阻变化－循环次数曲线上电阻变化突然增大来表征金属薄膜损伤，定义疲劳寿命Nf。由应力－应变曲线得到的应变幅Δε及其所对应的疲劳寿命Nf构成了金属薄膜/柔性基板系统中金属薄膜疲劳性能失效评价。该方法测试简单，测量精确且具有先验性。

嵌入式软件可靠性加速测试方法 755     

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本发明公开了一种嵌入式软件可靠性加速测试方法,通过建立软件任务剖面,来随机抽取产生软件任务序列,作为实际可靠性测试中施加的完整而有效的测试输入;测试过程中统计收集任务特征和任务状态,测试过程达到稳定过程后进入控制过程,施加测试策略,最后对软件可靠性进行工程评估。本发明控制过程中的测试策略的提出达到了合理高效地加速可靠性测试过程的目的,也拓展了对嵌入式软件进行可靠性测试的思路。基于软件任务剖面生成的软件任务序列,可以满足对复杂的输入条件的描述和覆盖,保证了可靠性测试数据的可信性;评估方法不依赖于失效数据的假设数学分布,适用于对精度没有过高要求的嵌入式软件的可靠性评估。

电气元器件可靠性评价及寿命预测方法 646     

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本发明公开了一种电气元器件可靠性评价及寿命预测方法，其包括如下步骤：1)对电气元器件的触点材料的标准材料样片分别进行运行环境暴露试验和加速腐蚀试验，建立两环境试验的良好相关性，并寻求两环境试验试验时间的对应关系；2)对电气元器件进行步骤1)中的加速腐蚀试验，根据关键电气性能参数的失效判据，得到对应的加速腐蚀失效时间，并根据步骤1)中两环境试验试验时间的对应关系，得到电气元器件在实际运行环境下的失效时间。本发明先验证该电气元器件加速腐蚀试验与运行环境暴露试验的相关性，然后选用相关性良好的加速腐蚀试验对电气元器件进行可靠性评价和寿命预测，有效缩短试验周期的同时，提高了可靠性评价及寿命预测的准确性。

光伏发电系统状态监测网络路由构建方法 987     

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本发明公开一种光伏发电系统状态监测网络路由构建方法，光伏发电系统状态监测网络由无线传感器节点构建而成，节点规则地部署于光伏阵列上。本发明适用于光伏发电系统状态监测网络路由的构建，为保障监测网络数据传输的有效性，首先提供监测网络路由协议，用于建立监测网络的路由表，然后提出基于二进制粒子群算法的路由重建方法，当监测网络因传感器节点失效而导致数据传输失败时，通过该方法更换少量节点，使得监测网络路由重建数达到最大化。

基于电路分割的低功耗扫描测试方法 850     

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一种测试技术领域的基于电路分割的低功耗扫描测试方法,步骤如下:1)电路分割:对设计进行逻辑划分,划分后一个逻辑部分对应一个扫描测试模式;2)扫描时钟设计:对各个逻辑部分进行扫描测试时,每一时刻只有一个逻辑部分的扫描时序单元的时钟可控制;3)独立扫描链电路设计:对于整个设计进行逻辑分割后,各个划分的测试逻辑部分是互异的关系;4)输入输出复用:划分的多个逻辑部分都有对应的扫描链,各逻辑部分的扫描链通过多路选择器复用共同的输入输出端口。本发明减少了同时进行扫描测试的扫描触发器的数量,大大降低了瞬时测试功耗,平均功耗也有所降低,从而避免了芯片在测试过程中由于功耗过大而失效。

存储器芯片内建自测试方法和电路装置 768     

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本发明一种存储器芯片内建自测试方法和电路装置，所述方法包括：将原始测试向量输入至待测电路，以生成测试数据信号；将原始测试向量输入至寄存器中，使得原始测试向量与测试数据信号同步；对延迟后的原始测试向量和测试数据信号进行逻辑异或运算，以生成用于表示待测电路是否有效的测试结果指示信号；将延迟后的原始测试向量的相位反转180度生成反相测试向量，并将反相测试向量和测试数据信号进行逻辑与非运算，输出逻辑状态指示值，用于表示待测电路失效时，测试数据信号的逻辑状态；根据测试结果指示信号，择一输出用于表示待测电路的有效测试结果和逻辑状态指示值中的一种。能够判断出待测电路是否有效，而且进一步得到待测电路的失效形态。

集成电路测试装置 607     

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本发明揭露一种集成电路测试装置,其包含一连接模块,电性连接于讯号载板;且连接模块内包含可挠式接点基板,其位于待测集成电路与讯号载板之间。可挠式接点基板包含一导电线路,其设有多个导电接点分别与待测集成电路及讯号载板作电性连接。本发明的可挠式接点基板使用一种低可燃性的环氧树脂玻璃纤维材料FR4,其具有吸收高频噪声的能力,可特别用在高频应用,减少测试时的噪声,以提高正确率;本发明的可挠式接点基板取代传统的伸缩探针,因而可以避免讯号载板的线路接点因过度磨损而失效的问题。

线性电路动态老炼测试设备 744     

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线性电路动态老炼测试设备,包括机柜、烘箱、计算机主机及外部设备,主要特点是还包括一组通用老炼单元、一组控制单元、多路隔离直流稳压电源以及专用线性电路测试仪器,可对线性电路进行额定动态功率老炼的同时,进行在线参数测试,可准确地鉴别线性电路的功能性失效和参数性失效,并能鉴别出线性电路的早期失效。

金属互连线电迁移的测试结构及方法 639     

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本发明公开了一种金属互连线电迁移的测试结构,包括本征多晶硅电阻、互连线测试结构、温度监控电阻和层间介质层,所述互连线测试结构和所述温度监控电阻相互平行且并排设置,所述本征多晶硅电阻位于所述层间介质层之下,所述互连线测试结构与温度监控电阻位于所述层间介质层之上。本发明还公开了一种金属互连线电迁移的测试方法,在给本征多晶硅电阻通电流使互连线测试结构周围温度达到设定温度之后,给互连线测试结构通恒定电流,并记录失效时间。本发明对金属互连线电迁移的评价不需要因在划片后进行封装测试而消耗硅片,从而大大的降低了成本,并且缩短了测试时间,提高了测试效率,可以实时监控工艺变化对金属互连线电迁移的影响。

贝叶斯软件可靠性验证测试方法及其计算机辅助工具 640     

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本发明提出一种贝叶斯软件可靠性验证测试方法及其计算机辅助工具，测试方法针对离散型和连续型两种软件，构造了基于减函数法的先验分布函数，在此基础上构造单层有先验的贝叶斯软件可靠性验证测试方法，再对先验分布函数中的超参数构建先验分布函数，构造多层无先验的贝叶斯软件可靠性验证测试方法。本发明计算机辅助工具包括先验数据收集管理模块、失效数据导入模块、先验信息计算模块、验证测试方案生成模块、录入验证测试失效数据模块及结果输出模块，实现基于减函数法的单层先验分布的贝叶斯软件可靠性验证测试。本发明更加适用于高可靠软件的可靠性验证测试，提高了验证测试的效率。

金属电迁移测试电路结构 642     

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本发明提供了一种金属电迁移测试电路结构，包括：由下至上的多层金属层；连接相邻所述金属层的通孔层；与所有所述金属层连通并向所有所述金属层和所述通孔层提供电流的引线端；以及，位于每层所述金属层上的测试线，通过测试所述测试线上的信号，以判断所述金属层或所述通孔层是否发生电迁移。在本发明提供的金属电迁移测试电路结构中，通过测试通孔层连接的相邻所述金属层上的测试线的信号，以判断所述金属层或所述通孔层是否发生电迁移，而多个测试线，可以同时测试到多个待测试失效问题的位置，并且测试后能根据不同测试线的位置精确定位到具体失效的位置。

电子表面贴装焊接质量预测与工艺参数优化方法 826     

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公开了电子表面贴装焊接质量预测与工艺参数优化方法，方法中，采集获取电子表面贴装焊接工艺参数并选取其中的多个焊接温区温度、多个冷却温区温度和带速作为模型的输入参数，将焊膏焊接失效概率作为输出参数，其中焊接失效概率为优化目标；数据预处理所述输入参数，并计算所述输入参数所对应的焊接失效概率；确定深度神经网络输入层、隐藏层、输出层神经元的个数，初始化后训练深度神经网络实现焊接质量预测；初始化遗传算法种群，将神经网络的输出作为遗传算法的适应度函数，完成种群选择、交叉、变异操作，生成子代种群，通过遗传算法寻找目标函数最优解和输入参数优化组合。

测定材料标距效应曲线的试验与计算方法 827     

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本发明公开了一种测定材料标距效应曲线的试验与计算方法，具体涉及试件测量节点布置及输出、真实应力应变的计算、不同标距下的真实应力应变曲线的处理及绘制标距效应曲线。本发明通过对单轴拉伸DIC试验制定详细的技术流程，提出了明确的技术要求——在试件宽度方向布置的网格数量为两倍宽度，保证了在物理意义上取到从1.0mm到10mm的整数标距，实现了本发明的技术目标——获取材料的标距效应曲线，以用于材料等效应变失效模型中材料失效参数的设定，显著降低了汽车碰撞仿真材料失效问题的复杂性及材料试验成本，因此，本发明具有重要的理论与工程实践意义。