合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 存储器装置及其内置自测试方法

存储器装置及其内置自测试方法

670   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:20
本发明提供一种存储器装置及其内置自测试方法,所述存储器装置包括自测试电路、存储单元阵列、电源电压产生器与列冗余地址替换电路。自测试电路,用以产生自测试数据信号与电源电压控制信号。存储单元阵列接收自测试数据信号并输出自测试失效信号。电源电压产生器依据电源电压控制信号产生电源电压。列冗余地址替换电路接收电源电压与自测试失效信号以提供冗余字线地址至存储单元阵列。电源电压产生器被配置为使电源电压在内置自测试模式小于一般模式。
声明:
“存储器装置及其内置自测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记