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读取阈值受寄生电容影响的OTP存储器设计

782   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:24
在OTP存储器中,反熔丝存储单元内寄生电容的存在将对OTP存储器编程后的读取阈值造成很大影响,严重时有可能无法正确读取编程数据,导致读机制的失效。本发明在介绍OTP存储器的整体读取电路以及灵敏放大器功能的基础上,通过理论分析以及仿真阐述了反熔丝存储单元内寄生电容对OTP存储器读取阈值的影响,并提出了解决方案,从而消除了存储单元内寄生电容对OTP存储器电路读取阈值的影响,最大程度保证了存储器的读取阈值,这可以最大程度的保证OTP存储器的读取阈值,提高OTP存储器用户的编程效率,提高芯片成品率。
声明:
“读取阈值受寄生电容影响的OTP存储器设计” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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