在OTP存储器中,反熔丝存储单元内寄生电容的存在将对OTP存储器编程后的读取阈值造成很大影响,严重时有可能无法正确读取编程数据,导致读机制的失效。本发明在介绍OTP存储器的整体读取电路以及灵敏放大器功能的基础上,通过理论分析以及仿真阐述了反熔丝存储单元内寄生电容对OTP存储器读取阈值的影响,并提出了解决方案,从而消除了存储单元内寄生电容对OTP存储器电路读取阈值的影响,最大程度保证了存储器的读取阈值,这可以最大程度的保证OTP存储器的读取阈值,提高OTP存储器用户的编程效率,提高
芯片成品率。
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