合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 并行测试结构

并行测试结构

897   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:19
本发明涉及并行测试结构,其中,示例装置包括与包含被测装置的集成电路连接并向其提供测试电压的测试模块。该测试模块在该被测装置上执行时间相关介电击穿(TDDB)测试。解码器与该被测装置及该测试模块连接。该解码器选择性连接各被测装置至该测试模块。电子熔丝与该被测装置中不同的一个连接。当相应被测装置失效时,该电子熔丝将各该被测装置与该测试电压单独电性断开。保护电路连接于该电子熔丝与接地电压之间,当该被测装置失效时,各保护电路在该解码器周围提供分流。
声明:
“并行测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记