本发明提供一种元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统,所述方法包括以下步骤:采集各门类电子元器件的失效信息;所述失效信息包括:失效分析方法、失效现象、失效模式、失效机理、失效环境;构建各失效信息之间的关联关系;以所述失效模式为触发点,根据各失效信息之间的关联关系构建元器件失效分析专家系统中的失效分析流程。本发明的元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统,满足了在元器件失效分析专家系统中构建不同门类电子元器件失效分析流程的需求,使失效分析专家系统成为一种具有逻辑判断功能、可辅助完成实际失效分析的电子手段。
声明:
“元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)