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薄壁结构超声共振测厚频谱分析内插校正方法

863   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:58:29
本发明创造应用于超声波无损检测领域,薄壁结构超声共振测厚频谱分析内插校正方法。包括:步骤1、采用超声共振法进行薄壁结构检测,获取薄壁结构的表面回波和共振回波;步骤2、对共振回波信号截取指定长度的样本进行傅里叶变换,得到频谱;步骤3、采用内插法对所述频谱进行校正;步骤4、计算壁厚度。本发明利用频谱内插校正方法,可以提高周期信号频谱频率估计精度。针对超声共振测厚信号,可以在不提高采样频率的前提下,减小共振频率的测量误差,能够减小分析误差,实现薄壁结构厚度损失的精确估计,提高分析壁厚的精度。
声明:
“薄壁结构超声共振测厚频谱分析内插校正方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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